塑料薄膜厚度测量仪 薄膜厚度测试仪 三泉中石 塑料薄膜测厚仪 配件

价格说明	由于产品配置不同，价格不同，所标价格仅为产品订金，不作为实际交易价格，请知悉！
测量范围	0-2mm
电源电压	220V
分辨率	0.1um
精度	0.1um
类型	薄膜测厚仪
外形尺寸	450mm×340mm×390mm
显示方式	液晶显示
重量	23kg
品牌	三泉中石
型号	CHY-U1
加工定制	否
测定对象	塑料薄膜

塑料薄膜厚度测量仪 薄膜厚度测试仪 三泉中石 塑料薄膜测厚仪

规格：CHY-U1

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三泉中石CHY-U塑料薄膜厚度测量仪是依据GB/T 6672《塑料薄膜和薄片厚度测定_机械测量法》等标准研发生产的塑料薄膜厚度检测仪器，适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度准确测量，误差小，操作简单方便。

 

为什么要测薄膜的厚度？

薄膜的厚度指的是基片表面和薄膜表面的距离。对于微电子薄膜而言，如光学薄膜，抗氧化薄膜，巨磁电阻薄膜，高温超导薄膜等，其厚度是一个非常重要的参数，直接关系到该薄膜材料能否正常工作。

除此之外，薄膜材料的力学性能，透光性能，磁性能，热导率，表面结构等都与厚度有着密切的联系。    

 

测试原理

将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。

 

塑料薄膜厚度测量仪技术特征 

1.仪器配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印，方便快捷地获取测试结果 ；

2.打印数值及每次测量结果，方便用户分析数据 ；

3.仪器自动保存达100组测试结果，随时查看并打印 ；

4.标准量块标定,方便用户快速标定设备 ；

5.配备自动进样器，可一键实现全自动多点测量，误差小 ；

6.提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户； 

7.配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输。

 

塑料薄膜厚度测量仪技术参数               

测量范围 ：0-2mm （其他量程可定制）               

分辨率 ：0.1um               

测量速度 ： 10次/min（可调）               

测量压力 ：17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）               

接触面积 ：50mm2（薄膜），200mm2（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种               

进样步矩 ： 0 ～ 1300 mm(可调)               

进样速度 ： 0 ～ 120 mm/s(可调)               

机器尺寸： 450mm×340mm×390mm (长宽高)               

重    量： 23Kg               

工作温度：15℃-50℃                    

试验环境：无震动，无电磁干扰               

工作电源：220V 50Hz

 

参照标准

GB/T 6672塑料薄膜和薄片厚度测定_机械测量法